• 歡迎光臨江蘇一六儀器有限公司官網!

    X射線熒光分析儀的應用及特點

    2020-05-25 19:12:30 16elite 62

            X射線熒光分析儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測,對產品和材料質量進行無損檢測,對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。同時,X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面儀器之一。
           X射線熒光分析儀產品特點
                1、在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀                   配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出最具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
                2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
                3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產生了重疊峰SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
                4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值                   的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
                5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。

    鍍層測厚儀|光譜測厚儀|熒光光譜儀|測厚儀

    鍍層測厚儀|光譜測厚儀|熒光光譜儀|測厚儀



    標簽:   X射線熒光分析儀的應用及特點
    江蘇一六儀器有限公司 版權所有 2017-2022 網站XML地圖 蘇ICP備17061610號-1 Powered by MetInfo 5.3.19 ©2008-2021 MetInfo Inc.
    丰满日韩放荡少妇无码视频