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    膜厚測試儀在什么條件下測量更準確

    2020-09-16 08:22:15 yunfengnet 15

    基體金屬特性

    對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。膜厚測試儀

    對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。

    基體金屬厚度

    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,無損檢測資源網 如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。

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    邊緣效應

    不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

    曲率

    不應在試件的彎曲表面上測量。

    讀數次數

    通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。

    表面清潔度

    測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。膜厚測試儀



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