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    XAU-4C專精多功能XRF

    匠心打造的新一代設計,是一款獨具科技感的一機多用型光譜儀,采用先進的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列,專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區RoHS檢測及全元素分析,每一個功能都是最專業的。

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    匠心打造的新一代設計,是一款獨具科技感的一機多用型光譜儀,采用先進的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列,專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區RoHS檢測及全元素分析,每一個功能都是最專業的。

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    1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,最小測量面積達0.03mm2

    2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm

    3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)

    4)配備高精密微型移動滑軌,可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

    5)裝配Si-Pin半導體探測器,分辨率高,測試速度快,數據穩定

    6)涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)

    7)成分分析范圍:硫S(16)- 鈾U(92)

    8)RoHS、鹵素有害元素檢測

    9)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

    10)標配4準直器自動切換

    11)配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度小于10%

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    XAU-4C廣泛應用于半導體行業、新能源行業、5G通訊、環保行業、汽車行業、衛浴裝飾、航空航天、引線支架、電鍍行業等多種領域

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